常見測(cè)試探針的種類和特性

測(cè)試針，用于測(cè)試線路板的一種常見的探針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3-10萬次的琴鋼線制作成的高性能彈簧，根據(jù)電子測(cè)試的用途可分為三種：1、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；2、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；　3、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，有部分產(chǎn)品成功生產(chǎn)，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品。探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。　　懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）垂直探針：垂直型（Vertical Type）1.ICT探針　（IC